產(chǎn)品名稱： SRM 1976c - X射線粉末衍射儀器響應(yīng)標(biāo)準(zhǔn) 標(biāo)準(zhǔn)品
英文名稱：Instrument Response Standard for X-Ray Powder Diffraction
品牌：美國NIST
| 產(chǎn)品編號 | 規(guī)格 | 貨期 | 銷售價 | 您的折扣價 |
|---|---|---|---|---|
| SRM 1976c | 1 disc | 現(xiàn)貨 | 10815 | 立即咨詢 |
- COA
- MSDS
NIST SRM 1976c X射線粉末衍射儀器(標(biāo)準(zhǔn)品) 由燒結(jié)氧化鋁圓盤組成，用于校準(zhǔn) X 射線粉末衍射設(shè)備的線位置和強(qiáng)度作為 2θ 角的函數(shù),。 SRM 的固體形式消除了由樣品加載過程引入的強(qiáng)度測量中的任何可變性,。 SRM 1976c 的一個單元由一個直徑約為 25.6 毫米,、厚度為 2.2 毫米的燒結(jié)氧化鋁圓盤組成。
材料說明：
用于生產(chǎn)此 SRM 的制造工藝是為生產(chǎn)電子元件基板而開發(fā)的,。用作這些基材前體的氧化鋁粉末具有高相純度（剛玉結(jié)構(gòu)）,，具有片狀顆粒形態(tài),。血小板的直徑通常為 5 μm 至 10 μm，厚度為 2 μm 至 3 μm,。圓盤的壓實過程導(dǎo)致軸對稱紋理基面趨向于與圓盤表面平行,。紋理的這種軸對稱特性允許樣品以任何關(guān)于表面法線的方向安裝。使用小百分比的鈣長石玻璃相對壓塊進(jìn)行液相燒結(jié),。未檢測到結(jié)晶雜質(zhì)。液相燒結(jié)中涉及的玻璃相有效地防止了顆粒間的接觸,，并在從燒結(jié)溫度冷卻碎片的過程中松弛,。這導(dǎo)致微應(yīng)變的最小發(fā)展及其相關(guān)的線展寬,；盡管可以檢測到一些微應(yīng)變，因為具有 tanθ 依賴性的高斯展寬,。鑒于此,，以及基本不存在微晶尺寸展寬，SRM 1976c 可用于獲得儀器輪廓函數(shù) (IPF) 的近似值,。但是,，不推薦使用 SRM 1976c 進(jìn)行定量微觀結(jié)構(gòu)分析。包含該 SRM 原料的圓盤是在單一的專用生產(chǎn)運行中制造的,，以確保微觀結(jié)構(gòu)在晶粒尺寸,、形狀,、微應(yīng)變和紋理方面的一致性,。
認(rèn)證值：
NIST 認(rèn)證值是 NIST 對其準(zhǔn)確性有最高置信度的值,，因為所有已知或可疑的偏差來源都已被調(diào)查或考慮在內(nèi)。被測量是表 1 中所示的相對強(qiáng)度（無量綱比）的認(rèn)證值,，以及表 2 中所示的晶格參數(shù),。計量溯源性是國際單位制 (SI) 單位，相對強(qiáng)度值是維度為一,，對于晶格參數(shù)，維度是長度（以納米表示）,。認(rèn)證值和不確定度是根據(jù) ISO/JCGM 指南 [1] 中描述的方法計算的,。
信息價值：
與 NIST SRM 1976c X射線粉末衍射儀器(標(biāo)準(zhǔn)品)認(rèn)證相關(guān)的分析包括計算表 3 中所示的衍射線位置。為了在各種光學(xué)配置的衍射設(shè)備上使用
SRM 1976c,，必須考慮偏振的影響。表 4 中顯示的值包括偏差
應(yīng)用于認(rèn)證值以說明這種影響,。表 3 和表 4 的數(shù)據(jù)表示為信息值,。信息值被認(rèn)為是 SRM 用戶感興趣的值，但沒有足夠的信息來評估與該值相關(guān)的不確定性,。信息值不能用于建立計量溯源性。
陳經(jīng)理（銷售）
