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本標準參考物質(zhì) (SRM) 主要用于校準用于測量 10 μm 至 150 μm 范圍內(nèi)的粒度分布 (PSD) 的設備,。 SRM 1982 的一個單元由一個裝有大約 10 克氧化釔穩(wěn)定氧化鋯 (YSZ) 粉末的瓶子組成。

通過掃描電子顯微鏡 (SEM) 和激光散射 (LLS) 以及篩分 [1] 測量了五個質(zhì)量百分位數(shù)的 PSD 值,。 SEM 認證的 PSD 值列于表 1,。這些認證值是通過測量來自五個瓶子的 20 000 多個單個顆粒而確定的。 LLS 和篩分的參考 PSD 值列于表 2 和表 3,。所有三種方法的比較如圖 1 所示,。

NIST SRM 1982 氧化釔穩(wěn)定氧化鋯(標準品)

認證值不確定性：

被測量是表 1 中列出的每個累積質(zhì)量的直徑。

計量溯源性是長度的 SI 單位（以微米表示）,。根據(jù) ISO/JCGM 和 NIST 指南 [2] 計算的每個百分位數(shù)的不確定度是 95% 置信水平的擴展不確定度,，其中包括由于測量不精確和材料可變性導致的不確定度。每個經(jīng)認證的直徑及其擴展的不確定性定義了一個直徑范圍,，相關百分位數(shù)預計至少有 95% 的樣品位于該直徑范圍內(nèi)。