SRM 2000 高分辨率 X 射線衍射(標準品)

產(chǎn)品名稱:SRM 2000 高分辨率 X 射線衍射(標準品)
英文名稱:Calibration Standard for High-Resolution X-Ray Diffraction
品牌:美國NIST
運輸信息:
產(chǎn)品編號 | 規(guī)格 | 貨期 | 銷售價 | 您的折扣價 |
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SRM 2000 | 1 block | 現(xiàn)貨 | 31050 | 立即咨詢 |
產(chǎn)品詳情
- COA
- MSDS


NIST SRM 2000 高分辨率 X 射線衍射(標準品) 為高分辨率 X 射線衍射 (HRXRD) 社區(qū)提供了國際單位制 (SI) [1] 可追溯的 Si (220) 透射間距、表面到晶面晶片我們的參考波長在反射中的誤切和表面到硅 (004) 布拉格角,。 SRM 2000 的一個單元由 25 mm × 25 mm × 0.725 mm 雙拋光 (100) 取向的單晶硅樣品組成,,具有標稱 50 nm Si0.85Ge0.15 外延層和 25 nm 硅帽。這些認證值可用于校準 HRXRD 儀器,。
認證到期:
NIST SRM 2000 高分辨率 X 射線衍射(標準品)的認證在規(guī)定的不確定性范圍內(nèi)無限期有效,,前提是按照本證書中給出的說明處理和儲存 SRM(參見“處理、儲存和使用說明”)。因此,,不需要定期重新校準或重新認證此 SRM,。如果 SRM 損壞、污染或以其他方式修改,,則認證無效,。
SRM 認證的維護:
NIST 將在其認證期間監(jiān)控此 SRM。如果發(fā)生影響認證的實質(zhì)性技術(shù)變化,,NIST 將通知購買者,。注冊(見附表)將有助于此通知。